摘要: 为了研究X分子筛的热稳定性,采用水热晶化法合成了纯相X分子筛,在氮气气氛中分别于500,600,700,800,900 ℃对X分子筛进行高温焙烧处理。采用X射线衍射、N2吸附-脱附、扫描电镜、热重分析、差示扫描量热、固体核磁共振和傅里叶变换红外光谱对X分子筛及其热处理产物进行表征。结果表明,热处理温度不超过800 ℃时,X分子筛晶体结构和微孔孔道均没有被破坏,热处理产物仍然保持了八面体形貌,晶体结构中的Si-O-Al连接保持稳定,且没有形成非骨架铝物种。当热处理温度达到900 ℃时,X分子筛的晶体结构发生熔融破坏,转变为边缘圆滑的无定形物种,微孔孔体积降至0,但是热处理产物中并没有形成明显的独立无定形铝物种,而是仍然存在大量Si-O-Al和Si-O-Si连接。